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ISBN-13: 9781441923066

Book Title: Scanning Probe Microscopy

ISBN: 9781441923066

Subject Area: Technology & Engineering, Science

Publication Name: Scanning Probe Microscopy : Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Item Length: 9.3 in

Publisher: Springer New York

Subject: Nanoscience, Materials Science / General, Electron Microscopes & Microscopy, Nanotechnology & Mems

Publication Year: 2010

Series: Nanoscience and Technology Ser.

Type: Textbook

Format: Trade Paperback

Language: English

Author: Adam Foster, Werner A. Hofer

Item Width: 6.1 in

Item Weight: 16.1 Oz

Number of Pages: Xiv, 282 Pages

Informazioni su questo prodotto

Product Information

Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Written in the style of a textbook, it explains from scratch the theory behind today's simulation techniques and gives examples of theoretical concepts through state-of-the-art simulations, including the means to compare these results with experimental data. The book provides the first comprehensive framework for electron transport theory with its various degrees of approximations used in today's research, thus allowing extensive insight into the physics of scanning probes. Experimentalists will appreciate how the instrument's operation is changed by materials properties; theorists will understand how simulations can be directly compared to experimental data.

Product Identifiers

Publisher

Springer New York

ISBN-10

1441923063

ISBN-13

9781441923066

eBay Product ID (ePID)

109176802

Product Key Features

Author

Adam Foster, Werner A. Hofer

Publication Name

Scanning Probe Microscopy : Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Format

Trade Paperback

Language

English

Subject

Nanoscience, Materials Science / General, Electron Microscopes & Microscopy, Nanotechnology & Mems

Publication Year

2010

Series

Nanoscience and Technology Ser.

Type

Textbook

Subject Area

Technology & Engineering, Science

Number of Pages

Xiv, 282 Pages

Dimensions

Item Length

9.3 in

Item Width

6.1 in

Item Weight

16.1 Oz

Additional Product Features

Intended Audience

Scholarly & Professional

Number of Volumes

1 Vol.

Lc Classification Number

Ta418.5-.84

Table of Content

The Physics of Scanning Probe Microscopes.- SPM: The Instrument.- Theory of Forces.- Electron Transport Theory.- Transport in the Low Conductance Regime.- Bringing Theory to Experiment in SFM.- Topographic images.- Single-Molecule Chemistry.- Current and Force Spectroscopy.- Outlook.

2006

Dewey Decimal

502.82

Dewey Edition

Illustrated

Yes

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