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Test ESD: dai componenti ai sistemi, copertina rigida di Voldman, Steven H., Li...-

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Ultimo aggiornamento: 02 mar 2024 08:57:49 CETVedi tutte le revisioniVedi tutte le revisioni

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Condizione: Come Nuovo: Libro che sembra nuovo anche se è già stato letto. La copertina non presenta segni di ... Come Nuovo: Libro che sembra nuovo anche se è già stato letto. La copertina non presenta segni di usura visibili ed è inclusa la sovraccoperta(se applicabile) per le copertine rigide. Nessuna pagina mancante o danneggiata, piegata o strappata, nessuna sottolineatura/evidenziazione di testo né scritte ai margini. Potrebbe presentare minimi segni identificativi sulla copertina interna. Mostra piccolissimi segni di usura. Per maggiori dettagli e la descrizione di eventuali imperfezioni, consulta l'inserzione del venditore. Vedi tutte le definizioni delle condizioniviene aperta una nuova finestra o scheda

Book Title: ESD Testing : From Components to Systems

ISBN: 9780470511916

Subject Area: Technology & Engineering

Publication Name: Esd Testing : from Components to Systems

Publisher: Wiley & Sons, Incorporated, John

Item Length: 9.7 in

Subject: Electronics / Semiconductors, Electronics / Circuits / Integrated, Electronics / Circuits / General

Publication Year: 2016

Type: Textbook

Format: Hardcover

Language: English

Item Height: 0.8 in

Author: Steven H. Voldman

Item Weight: 22.4 Oz

Item Width: 6.9 in

Number of Pages: 328 Pages

Informazioni su questo prodotto

Product Information

With the evolution of semiconductor technology and global diversification of the semiconductor business, testing of semiconductor devices to systems for electrostatic discharge (ESD) and electrical overstress (EOS) has increased in importance. ESD Testing: From Components to Systems updates the reader in the new tests, test models, and techniques in the characterization of semiconductor components for ESD, EOS, and latchup. Key features: Provides understanding and knowledge of ESD models and specifications including human body model (HBM), machine model (MM), charged device model (CDM), charged board model (CBM), cable discharge events (CDE), human metal model (HMM), IEC 61000-4-2 and IEC 61000-4-5. Discusses new testing methodologies such as transmission line pulse (TLP), to very fast transmission line pulse (VF-TLP), and future methods of long pulse TLP, to ultra-fast TLP (UF-TLP). Describes both conventional testing and new testing techniques for both chip and system level evaluation. Addresses EOS testing, electromagnetic compatibility (EMC) scanning, to current reconstruction methods. Discusses latchup characterization and testing methodologies for evaluation of semiconductor technology to product testing. ESD Testing: From Components to Systems is part of the authors' series of books on electrostatic discharge (ESD) protection; this book will be an invaluable reference for the professional semiconductor chip and system-level ESD and EOS test engineer. Semiconductor device and process development, circuit designers, quality, reliability and failure analysis engineers will also find it an essential reference. In addition, its academic treatment will appeal to both senior and graduate students with interests in semiconductor process, device physics, semiconductor testing and experimental work.

Product Identifiers

Publisher

Wiley & Sons, Incorporated, John

ISBN-10

0470511915

ISBN-13

9780470511916

eBay Product ID (ePID)

228461311

Product Key Features

Number of Pages

328 Pages

Language

English

Publication Name

Esd Testing : from Components to Systems

Publication Year

2016

Subject

Electronics / Semiconductors, Electronics / Circuits / Integrated, Electronics / Circuits / General

Type

Textbook

Subject Area

Technology & Engineering

Author

Steven H. Voldman

Format

Hardcover

Dimensions

Item Height

0.8 in

Item Weight

22.4 Oz

Item Length

9.7 in

Item Width

6.9 in

Additional Product Features

Intended Audience

Scholarly & Professional

LCCN

2016-023736

Dewey Edition

Dewey Decimal

621.38154

Lc Classification Number

Tk7870.285.V65 2016

2017

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