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Beam Injection Assessment of Defects in Semiconducto...

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Ultimo aggiornamento: 29 mag 2024 10:20:13 CESTVedi tutte le revisioniVedi tutte le revisioni

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Ottime condizioni: Libro che non sembra nuovo ed è già stato letto, ma è in condizioni eccellenti. ...
Title
Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors: Volume...
Book Title
Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors: Volume...
Contributor
Edited by Otwin Breitenstein
ISBN
390845039X
EAN
9783908450399
Binding
Paperback
Genre
Physics
Height
27.94
Length
240.03
Width
169.93
Release Title
Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors: Volume...
Artist
various
Brand
N/A
Colour
N/A
Subject Area
Material Science, Mechanical Engineering
Publication Name
Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors
Publisher
TRANS Tech Publications LTD
Subject
Physics
Publication Year
1998
Type
Textbook
Format
Paperback
Language
English
Item Height
240mm
Author
Martin Kittler, Wolfgang Schroeter, Otwin Breitenstein, A. Endroes
Item Width
170mm
Item Weight
1300g
Number of Pages
550 Pages

Informazioni su questo prodotto

Product Information

The 5th International Workshop on Beam Injection Assess ment of Defects in Semiconductors (BIADS 98) focussed on many theoretical and experimental aspects of this topic. The aim was to bring together specialists working in the fields of both fundamental research and applications. There were more than 80 participants from 15 countries all over the world. The topics covered by the BIADS 98 program included: charge-collection microscopy and related methods, luminescence, near-field methods and STM, advanced methods and applications, application of beam injection to technology and to devices and teterostructures. This book should therefore be of interest to anyone working on defects in semiconductors.

Product Identifiers

Publisher
TRANS Tech Publications LTD
ISBN-13
9783908450399
eBay Product ID (ePID)
87640939

Product Key Features

Subject Area
Material Science, Mechanical Engineering
Author
Martin Kittler, Wolfgang Schroeter, Otwin Breitenstein, A. Endroes
Publication Name
Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors
Format
Paperback
Language
English
Subject
Physics
Publication Year
1998
Type
Textbook
Number of Pages
550 Pages

Dimensions

Item Height
240mm
Item Width
170mm
Volume
Volumes 63-64
Item Weight
1300g

Additional Product Features

Issn
1012-0394
Series Title
Solid State Phenomena
Country/Region of Manufacture
Switzerland
Editor
A. Endroes, Martin Kittler, Wolfgang Schroeter, Otwin Breitenstein

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Informazioni sul venditore professionale

WORLD OF BOOKS LIMITED
Debbie Nicholl
Mulberry House
Woods Way
Goring-by-sea
West Sussex
BN12 4QY
United Kingdom
Mostra Informazioni di contatto
:liamEmoc.skoobfodlrow@yabe
Numero Partita IVA:
  • DE 281042328
  • EL 996857788
  • ES N8267548I
  • FR 27823676960
  • GB 922696893
  • IT 00185819992
Numero registro delle imprese:
  • 06437594
Certifico che tutte le mie attività di vendita saranno conformi alle leggi e ai regolamenti dell'Unione Europea.
Numero di registrazione dell'impresa:
  • 06437594
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