Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS by Gracieli Posser, Ricardo Reis and Sachin S. Sapatnekar (2016, Hardcover)
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ISBN-13: 9783319488981, 978-3319488981. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. Electromigration Inside Logic Cells.