Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS by Gracieli Posser, Ricardo Reis and Sachin S. Sapatnekar (2016, Hardcover)

BOOKS etc. (574521)
99,7% di feedback positivi
Prezzo:
GBP 38,44
CircaEUR 44,28
+ 10,11 di spese di spedizione
Consegna prevista ven 31 ott - mer 5 nov
Restituzioni:
Restituzioni entro 60 giorni. Le spese di spedizione del reso sono a carico dell'acquirente..
Condizione:
Nuovo
ISBN-13: 9783319488981, 978-3319488981. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. Electromigration Inside Logic Cells.

Informazioni su questo prodotto

Product Identifiers

PublisherSpringer International Publishing A&G
ISBN-103319488988
ISBN-139783319488981
eBay Product ID (ePID)22046553780

Product Key Features

Book TitleElectromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Number of PagesXx, 118 Pages
LanguageEnglish
Publication Year2016
TopicSystems Architecture / General, Electronics / Semiconductors, Electronics / Circuits / General, Electronics / General
IllustratorYes
GenreComputers, Technology & Engineering
AuthorGracieli Posser, Ricardo Reis, Sachin S. Sapatnekar
FormatHardcover

Dimensions

Item Weight119.1 oz.
Item Length9.3 in
Item Width6.1 in

Tutte le inserzioni per questo prodotto

Compralo Subitoselected
Nuovo
Nessun punteggio o recensione